新增應(yīng)用解決方案——4200-FLASH工具包為功能強大的黑盒式Flash存儲器測試解決方案，實現(xiàn)針對Flash存儲器的三種最重要測試：特征分析、耐久性測試和干擾測試。該應(yīng)用工具包自動實現(xiàn)直流測試和脈沖測試的切換，無需外部開關(guān)。其內(nèi)置高耐久性輸出繼電器，摒棄大多數(shù)Flash測試采用的外部固態(tài)繼電器，從而加快Flash存儲器的壽命測試，提高測試效率和易用性。此外，4200-FLASH工具包內(nèi)提供的專用代碼和項目簡化Flash存儲器測試的配置和啟動過程。

新增的4200-PIV-A工具包，為吉時利（Keithley）現(xiàn)有獲獎工具包4200-PIV的增強版，專門針對前沿的CMOS器件特征分析而量身定制，其增強功能包括改進的低至100nA的低電流分辨率、結(jié)合了脈沖測試與直流測試的友好操作界面和直觀的圖形界面。

連續(xù)的軟件升級

KTEI（Keithley Test Environment Interactive，吉時利交互式測試環(huán)境）的最新版本V6.2版增強多種軟件功能， 包括采用以太網(wǎng)連接，遠程調(diào)用脈沖發(fā)生器和示波硬件，在UTM（User Test Module，用戶測試模塊）中遠程控制板級測試，這些新功能改進了原來通過外部PC控制4200-SCS的方式。此外，另一項新功能允許用戶在多種常規(guī)應(yīng)用中通過友好的GUI界面與單個的UTM進行交互，包括一個開關(guān)矩陣控制器和PIV測試。KTEI V6.2版還可作為獨立軟件工具包安裝在用戶PC機，用于離線測試生成和測試后期數(shù)據(jù)分析?，F(xiàn)有客戶能夠很方便地升級到新版應(yīng)用解決方案，保護投資，減少固定設(shè)備建設(shè)費用，從而降低測試總成本

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