用于并行測(cè)試的數(shù)字通道是ATE主要部分之一，通常使用專用結(jié)構(gòu)，因?yàn)樗鼘ｉT設(shè)計(jì)用于滿足各種測(cè)試要求，速度、控制性能、數(shù)據(jù)深度、整個(gè)時(shí)序范圍靈活性、寬電壓幅值等等都是需要了解的特性，以便知道它如何方便地使系統(tǒng)滿足每個(gè)人的測(cè)試需求。串行數(shù)字測(cè)試帶有大量協(xié)議，通常由集成到系統(tǒng)內(nèi)部的專門儀器提供，IEEE1194.2或JTAG/邊界掃描測(cè)試技術(shù)也是同樣情況，可以完整集成到綜合測(cè)試環(huán)境中。

　　與STE結(jié)構(gòu)類似，ATE系統(tǒng)結(jié)構(gòu)中集成了很多商用儀器以提供模擬測(cè)試功能。這里需要澄清什么叫“集成”。驅(qū)動(dòng)儀器最簡(jiǎn)單的方法是通過在計(jì)算機(jī)與儀器之間建立一個(gè)雙向通信很容易地實(shí)現(xiàn)，使用戶可以與其進(jìn)行交流，但這并不是“集成”，只是一個(gè)簡(jiǎn)單的接口。這種方式下通過交換字符串或調(diào)用C程序?qū)x器編程，使得任務(wù)冗長(zhǎng)而復(fù)雜，同時(shí)程序文件編制、程序改變或調(diào)試操作都需要技巧與耐心，此外如果儀器已經(jīng)陳舊需要更換，那么所有程序都需要糾正，通常STE上用戶使用儀器就是采用這種方式。

　　儀器集成還包括儀器層之間的通信，但用更高層指令保護(hù)編程與調(diào)試，以避免上面的所有問題，例如對(duì)任意DMM編程進(jìn)行電壓測(cè)量可用如下簡(jiǎn)單語(yǔ)句：MEASURE V at PIN ACK1 TEST (4.9V MIN, 5.1V MAX);　　軟件驅(qū)動(dòng)器可以給ATE提供儀器與附加接口層，語(yǔ)言則保證儀器集成的有效性，系統(tǒng)控制管理DMM和UUT上ACK1引腳之間的連接。

　　如果因?yàn)閮x器陳舊改變DMM，只需要一個(gè)新的驅(qū)動(dòng)軟件和協(xié)議層，所有測(cè)試程序均保持不變。　　除了儀器全面集成帶來(lái)的優(yōu)點(diǎn)之外，ATE還能為信號(hào)路由和連接提供更好方案。ATE專用背板大多數(shù)情況下包括一個(gè)模擬總線，可以讓儀器直接連到任何引腳，而不會(huì)使內(nèi)外引線變得復(fù)雜。這種靈活性通?？蓴U(kuò)展到將模擬和數(shù)字通道合在一起(混合通道)，使用戶在任何時(shí)候連接數(shù)字或模擬激勵(lì)，并測(cè)量接收器任意引腳。其結(jié)果是不僅使成本大大簡(jiǎn)化降低，同時(shí)測(cè)試程序也更易于實(shí)現(xiàn)。