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首頁新聞資訊 >> 目前我國電性能測試的局限性

 

 目前我國電性能測試的局限性

  在今天大多數(shù)電子產(chǎn)品中,由于超細(xì)間距的元器件,雙面貼裝的模塊以及射頻電路的存在,使得根本無法100%測量全部電氣節(jié)點(diǎn)。雖然電子產(chǎn)品制造廠商當(dāng)前大量采用的ICT在線測試儀,理想情況是可以用針床給全部電氣節(jié)點(diǎn)加載測試信號(hào)以發(fā)現(xiàn)制造缺陷。然而,在一些電子產(chǎn)品比如高檔手機(jī)中,一個(gè)測試焊盤甚至比0402這樣的分離器件還要大。ICT在線測試儀只能測試其中不到50%的電氣節(jié)點(diǎn)。當(dāng)這些測試焊盤比器件還要大時(shí),就可以理解為什么無法對產(chǎn)品進(jìn)行100%的電性能測試。
 

 

 

 

[錄入:admin] [日期:10-06-27]

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