?。?）測(cè)試程序編寫　

　　依照IC需要測(cè)試項(xiàng)目編寫測(cè)試程序，程序編寫可以利用圖像(Icon)拉圖的方式編寫，使用者只要在該測(cè)試圖像中輸入測(cè)試的參數(shù)就可以。此種使用方式對(duì)于測(cè)試程序編寫較為容易。另一種是使用“指令”（Command）方式編寫測(cè)試程序，此種方式較為復(fù)雜，使用者需要熟記指令的語法，但對(duì)于特殊的IC測(cè)試應(yīng)用，指令的使用則較拉圖方式來得更有彈性且方便。

　?。?）時(shí)序圖顯示（Logic Waveform）

　　該功能可以記錄及顯示IC測(cè)機(jī)輸出信號(hào)的波形及DUT IC輸出信號(hào)的波形，若DUT IC輸出的信號(hào)和Test Pattern不一樣該時(shí)序圖顯示功能也能顯示出來。

　?。?）測(cè)試程序除錯(cuò)（Debugging）

　　可以顯示各種量測(cè)的結(jié)果,同時(shí)也讓使用者直接修改測(cè)試參數(shù)，并可以立即量測(cè)。

　?。?）Shmoo分析

　　可量測(cè)及分析IC的電氣特性，使用者可以設(shè)定一個(gè)或多個(gè)測(cè)試參數(shù)的范圍值后，再量測(cè)IC，以得知IC在某測(cè)試范圍其功能會(huì)正常，在某測(cè)試范圍會(huì)發(fā)生異常，如此就可以得知該IC的使用電氣特性。

　?。?）測(cè)試結(jié)果（Summary Report）

　　IC測(cè)試機(jī)會(huì)將IC所測(cè)試的項(xiàng)目及測(cè)試值顯示及記錄下來，同時(shí)也會(huì)將IC依照測(cè)試程序的設(shè)定，將不同測(cè)試項(xiàng)目的結(jié)果給予分類及統(tǒng)計(jì)，以作為測(cè)試生產(chǎn)報(bào)表使用。

　　3 總結(jié)

　　IC測(cè)試機(jī)除了給IC代工測(cè)試廠，作為IC測(cè)試使用之需要，同時(shí)也可以給IC設(shè)計(jì)公司，作為IC工程驗(yàn)證使用，它是十分方便且有用的設(shè)備，然而卻發(fā)現(xiàn)IC測(cè)試的需要較高于IC測(cè)試機(jī)所能提供的測(cè)試功能，其原因不外乎是當(dāng)IC有研發(fā)出來的新功能時(shí)，IC測(cè)試機(jī)才會(huì)要開始開始研發(fā)該部分的測(cè)試功能，故IC測(cè)試機(jī)總是無法完全滿足使用IC功能的測(cè)試需要，因?yàn)槿绱?，IC測(cè)試將提供給每位IC測(cè)試工程師及IC測(cè)試機(jī)制造廠一個(gè)很大的努力空間，最后期望于未來將有更多的優(yōu)秀工程師能投入IC測(cè)試的領(lǐng)域，彼此相互研究及分享IC測(cè)試的經(jīng)驗(yàn)，進(jìn)而提高IC測(cè)試技術(shù)。