淺談集成電路測試機

1 前言

　　集成電路測試機的種類,若依照其測試功能一般可區(qū)分為Logic測試機，Memory測試機及Mixed-signal測試機三大類。其中Logic測試機應(yīng)用于一般消費性IC，如Voice，MCU IC等測試使用，Memory測試機應(yīng)用于DRAM，F(xiàn)lash，SRAM等IC測試使用，而Mixed-signed測試機，則應(yīng)用于Mixed-Signal IC測試，如Vedio，SoC IC等測試使用。

　　雖然不同種類的IC測試機使用于不同類型的IC測試使用，但其最基本的測試功能及原理實際上差異性并不大，只是不同類型的測試機多了某些特別的測試功能罷了，其中以Logic測試機之測試功能最為基本，故本文將以Logic測試機之功能及使用作為IC測試機之介紹。Logic IC測試機之功能一般可區(qū)分為：AC測試部分，DC測試部分，電源供給部分。

　　（1）AC測試部分

　　該AC測試部分最主要的功能是將利用存放在Local Memory的Pattern，經(jīng)由時序產(chǎn)生模塊(Timing Generator)，波形格式模塊(Waveform Formatter)及信號準(zhǔn)位驅(qū)動模塊（Driver）產(chǎn)生給DUT IC所需要的輸入信號。同時DUT IC輸出的信號也經(jīng)由信號準(zhǔn)位比較模塊(Comparator) ，時序產(chǎn)生模塊（Timing Generator）及處理器（Sequencer）和存放在Local Memory的Pattern比較(Comparison)以測試該IC的輸出信號是否正常。AC測試部分其模塊如圖1所示。

　　（2）DC測試部分

　　DC的測試是使用參數(shù)量測模塊（Parameter Measurement Unit, PMU）來量測DUT IC有關(guān)該IC的漏電源，輸出入工作電流/電壓是否正常，PMU是一組可以提供電流源及電壓源的電源供應(yīng)器，同時也是一組具有可量測電流值及電壓值的量測設(shè)備。PMU具有電流及電壓限制功能，可讓PMU所施予電流及電壓值不會超過該電流及電壓的限制值，以保護(hù)DUT IC不被施予的電流及電壓燒掉。DC測試部分其模塊如圖2所示。

　?。?）電源供應(yīng)部分

　　電源供給模塊（Device Power Supply, DPS）來供給DUT IC工作所需要的電源，并量測該IC的靜態(tài)或動態(tài)電流是否正常。DPS是一組可以提供電壓源的電源供應(yīng)器，同時也是一組具有可量測電流值的量測設(shè)備。DPS具有電流限制功能，可讓PMU所施予電流值不會超過該電流的限制值，以保護(hù)DUT IC不被施予的電流燒掉。電源供給部分其模塊如圖3所示。

　　2 IC測試機的使用

　　IC測試機的使用包含有：測試圖樣編輯（Test Pattern），測試程序（Test Program）編寫，測試程序除錯，IC電氣特性分析以及測試結(jié)果統(tǒng)計 等主要項目。

　　（1）測試圖樣編輯

　　測試圖樣分為二部分，第一部分為控制指令（u-Intrution）：控制測試圖樣的測試動作流程，其指令如：Repeat，Match，Jump等，另一部分為：圖樣符號(Pattern Symbol)如0，1，L，H，Z等。測試圖樣是用于IC功能AC測試使用，IC測試機的測試圖樣編輯功能提能供Test Pattern的顯示，修改，貯存等功能。