Agilent3070測(cè)試設(shè)備測(cè)試方法介紹 http://kaiweiwujin.cn
一般來(lái)說(shuō)，在線測(cè)試方法分為兩大類：
(1)非加電測(cè)試（unpowered test），也稱非矢量測(cè)試（vectorless test）。
(2)加電測(cè)試（powered test），也稱非矢量測(cè)試（vector test）。
非加電測(cè)試一般用來(lái)測(cè)試開路（OPEN），短路（SHORT），模擬元器件（ANALOG COMPONET），連接性（CONTINUITY），極性測(cè)試（POLARITY），方向測(cè)試（ORIENTATION）等等。
加電測(cè)試一般用來(lái)測(cè)試模擬集成電路（ANALOG IC），數(shù)字集成電路（DIGITAL IC），混合集成電路 （MIXED/HYBRID IC），邊界掃描（BOUNDARY SCAN），在線燒錄ISP（IN SYSTEM PROGRAMMING）。
AGILENT3070非加電測(cè)試方法：
（1）SHORTS TEST -- 測(cè)試PCBA的開短路。
（2）PINS TEST -- 測(cè)試PCBA和FIXTURE（夾具）之間連接性[不用來(lái)對(duì)PCBA進(jìn)行測(cè)試]。
（3）ANALOG TEST -- 模擬測(cè)試（主要用來(lái)測(cè)試電阻，電容等模擬元件）。
（4）TESTJET TEST -- 測(cè)試器件的連接性及方向。
（5）POLARITY TSET -- 測(cè)試器件的極性。
（6）CONNECT CHECK -- 測(cè)試器件的連接性及方向，也TESTJET形成互補(bǔ)測(cè)試方法。
（7）DRIVE THROUGH -- 與TESTJET測(cè)試結(jié)合，解決LIMITED ACCESS PROBLEMS。
（8）UNPOWED CLUSTER -- 非矢量群測(cè)試庫(kù)，解決LIMITED ACCESS PROBLEMS。
AGILENT3070加電測(cè)試方法：
（1）BOUNDARY SCAN TEST -- 邊界掃描測(cè)試。
（2）DIGITAL TEST -- 數(shù)字測(cè)試。
（3）DIGITAL FUNCTIONAL -- 數(shù)字功能測(cè)試。
（4）ANALOG FUNCTIONAL -- 模擬功能測(cè)試（模擬加電測(cè)試）。
（5）MIXED TEST -- 混合測(cè)試。
（6）POWERED CLUSTER -- 矢量群測(cè)試庫(kù)，解決LIMITED ACCESS PROBLEMS。
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